公益社団法人 日本表面科学会

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[ml_049] 表面分析研究部会セミナー「 XPS スペクトルのデータ処理をどう理解するか?」 ご案内

速報発信者;笹川 薫(コベルコ科研、表面分析研究部会部会長)


2017年度 日本表面科学会 表面分析研究部会セミナー
「XPSスペクトルのデータ処理をどう理解するか?」

日時 2017年10月27日(金曜日)13:00-17:00
場所 東京大学理学部化学本館5階(機械振興会館から変更しました)
   〒113-8654 東京都文京区本郷7-3-1
   https://www.s.u-tokyo.ac.jp/ja/map/map07.html
主催 日本表面科学会表面分析研究会
共催 大学連携研究設備ネットワーク事業、表面分析研究会、
   物質・材料研究機構表面化学分析グループ、
   ナノテクノロジープラットフォームセンター

セミナーの主旨 XPSによる材料表面計測は広く実用的に用いられている。しかし、
そのデータ解析・解釈は必ずしも容易ではない。また、その標準化も十分になされて
いるとは言い難い。実際の現場では、個々の材料、操作ごとに考える必要があり、悩
ましい問題を常に含む。そこで、本セミナーではXPSのピーク分離などの基本的な事
柄(易しいわけではない!)から電子輸送シミュレータを駆使した解析例までを、実
用を志向した観点から紹介し、参加者と議論したい。分かることは「より明快」に、
分からないことは「なぜ分からないか」が納得できるセミナーとしたい。実用分析
(PracticalSurface Analysis)の難しさがどこにあるのかを明確にすることを意図
している。そこで、XPSユーザーの現場での疑問を取り上げ、講演者と参加者でその
情報を共有し、その原因(と可能であれば解決策)を考える場としたい。

講演題目(仮題、講演者は交渉中)
13:00-13:40 XPSの基礎
 1)XPSの分析・観測深さと標準化    田沼繁夫(NIMS)
 2)XPS装置の現状           岩井秀夫(NIMS)
13:40-14:40  XPSデータ処理の実際
 3)COMPROを用いたデータ処理-実用的な解析法をどう選択するか-
                    吉原一紘(シエンタオミクロン)
 4)Tougaardのナノ構造解析を用いたデータ処理
  -バックグラウンドとスペクトル形状から見えてくるもの-
                    眞田則明(アルバックファイ)
14:40-15:00 休憩
15:00-16:20 表面定量、シミュレータと標準化
 5)XPS分析における表面定量分析と電子輸送シミュレータの役割
  -表面定量を基礎から考える-    吉川英樹(NIMS)
 6)電子輸送シミュレータSESSAを用いたXPS分析例
                    三浦 薫(NIMS)
 7)XPSデータ処理の標準化の現状-現場で有効に活かすには-
                    永富隆清(旭化成)
16:20-17:00 Q&Aコーナー:計測法からデータの解析・解釈まで
 8)Q&A:分析相談コーナー  参加者全員
   SP:5分×3件(目安として;max5件)
   例:このデータはどう解釈すべきか?
    :分析・解析のレシピはどう作る?
    など、聴衆からの質問に対して皆で考える「分析相談コーナー」

セミナー参加費    無料
参加申し込み締め切り 2017年10月20日(金)
申込・問合先
 1)丸林敬子  MARUBAYASHI.Keiko@nims.go.jp
  物質・材料研究機構 統合型材料開発・情報基盤部門
  材料データプラットフォームセンター データ収集グループ
  〒305-0047 茨城県つくば市千現1-2-1

Q&Aに関する申し込み/問い合わせは、下記までお願いいたします。
 2)田沼繁夫  Tanuma.shigeo@nims.go.jp
  物質・材料研究機構 ナノテクノロジープラットフォームセンター
  〒305-0047 茨城県つくば市千現1-2-1
  TEL:029-860-4801

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