公益社団法人 日本表面科学会

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[ml_103] 【第 63 回表面科学基礎講座〜表面・界面分析の基礎と応用〜】 のご案内

速報発信者;本間芳和(東京理科大学、日本表面科学会企画委員長)


(公社)日本表面科学会主催
【第63回表面科学基礎講座〜表面・界面分析の基礎と応用〜】 のご案内

表面・界面分析技術はめざましく進歩し、学術的研究はもとより、産業界における
研究開発や品質評価などに盛んに利用されています。本講座は、表面・界面分析の
初心者、若手研究者、技術者を対象として、表面・界面分析の基礎と応用を入門的
かつ具体例を豊富に挙げて解説することを目的としています。また、各講演で演習
問題の解説を行い、内容の理解を深めます。
各講演の内容など企画の詳細につきましては、ホームページ

http://www.sssj.org/jpn/activities/04/detail.php?eid=00013

をご覧下さい。表面科学基礎講座へ多数の方々の参加をお勧めいたします。

★新しく表面科学・表面分析を始める技術者や学生の皆さんの"新人研修"として、
 あるいは技術者、研究者の皆さんが表面分析法の"基礎を見直す機会"としても、
 ご活用下さい。
★新たな科目も開講します。この機会にぜひ、受講をご検討下さい。

日時:2017年6月27日(火)〜29日(木) の3日連続
会場:東京理科大学 神楽坂キャンパス 1号館17階記念講堂
 (東京都新宿区神楽坂1-3) 最寄:JR飯田橋駅ほか、徒歩約3分
申込締切、申込方法:
 6/21(水)までに、上記webサイトから
問い合わせ先:
 日本表面科学会事務局:shomu@sssj.org

講座内容と講師(敬称略):
6月27日(火):
 表面・界面分析概論     野副尚一(シエンタオミクロン)
 真空技術基礎         大岩 烈(シエンタオミクロン)
 X線光電子分光法(XPS)       中村 誠(富士通研)
 薄膜X線測定法(XRD/XRR)    稲葉克彦(リガク)
 放射光表面構造解析     近藤 寛(慶応大)
6月28日(水):
 SPMの基礎と応用        中嶋 健(東工大)
 二次イオン質量分析法(スタティックSIMS)
                河野禎市郎(旭化成)
 測定データの取扱いの基礎 太田英二(慶応大)
 走査電子顕微鏡、電子プローブマイクロアナライザ(SEM/EPMA)
                林 広司(島津)
 透過電子顕微鏡(TEM/STEM/EDS/EELS)
                保田英洋(大阪大)
7月7日(木):
 表面における赤外分光法、ラマン分光法
                石橋孝章(筑波大)
 表面の特性基礎     木口 学(東工大)
 イオンプローブ基礎     笹川 薫(コベルコ科研)
 界面分析としての電気化学測定基礎
                野口秀典(物材機構)
 DLTS(Deep Level Transient Spectroscopy)法を中心とした
 電気計測による界面評価    岡田 廣(セラミックファーム)

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