公益社団法人 日本表面科学会

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日本表面科学会 第81回表面科学研究会 日本真空学会 2014年2月研究例会 「放射光X線・中性子線技術を利用した溶液に埋もれた界面構造解析」

主催

公益社団法人日本表面科学会 

一般社団法人 日本真空学会

開催日

2014年2月5日(水)

締切日

2014年02月05日

会場

東京理科大学森戸記念館 第1会議室

東京都新宿区神楽坂4-2-2

http://www.tus.ac.jp/info/access/kagcamp.html

電話 03-5228-8110

JR総武線、地下鉄有楽町線、東西線、南北線 飯田橋駅下車 徒歩6分 大江戸線 牛込神楽坂駅下車 徒歩4分

プログラム

開会の挨拶 10:20〜10:25  

X線を利用した固液界面計測  (お茶の水女子大)近藤 敏啓 10:25〜11:05  

X線回折法による固液界面の電気二重層構造とダイナミクス (千葉大学)中村 将志 11:05〜11:45

(休憩)  

埋もれた界面の中性子解析 (物質・材料研究機構)櫻井 健次 13:00〜13:40  

中性子反射率計SOFIAを用いた固液界面測定 (高エネルギー加速器研究機構)山田 悟史 13:40〜14:20

(休憩)

軟X線吸収分光法による電極固液界面の局所構造の解明 (分子科学研究所)長坂 将成 14:35〜15:15  

X線反射率測定によるイオン液体界面の構造解析 (京都大学) 西  直哉 15:15〜15:55

閉会の挨拶 15:55〜16:00

費用

当日会場にてお支払ください

日本表面科学会会員,日本真空学会会員   2,500円(予稿集代を含む)

非会員                3,500円(予稿集代を含む)

学 生                無  料(予稿集500円)

申込方法

終了しました。

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〒113-0033 東京都文京区本郷2-40-13 本郷コーポレイション402 TEL:03-3812-0266 FAX:03-3812-2897 Email:

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