公益社団法人 日本表面科学会

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実用顕微評価技術セミナー2016

主催

日本表面科学会 関東支部

共催

日本表面科学会 産業連携委員会・企画委員会

開催日

2016年6月17日(金) 10:00〜17:30(予定)

締切日

2016年06月17日

会場

東京大学 小柴ホール(東大本郷キャンパス・理学部1号館内)

本郷三丁目駅(地下鉄丸の内線)徒歩8分

本郷三丁目駅(地下鉄大江戸線)徒歩6分

湯島駅又は根津駅(地下鉄千代田線)徒歩8分

東大前駅(地下鉄南北線)徒歩1分

春日駅(地下鉄三田線)徒歩10分

http://www.u-tokyo.ac.jp/campusmap/cam01_00_25_j.html

プログラム

昨年まで日本表面科学会で主催していました、「実用顕微評価技術セミナー」を本年度より関東支部会で主催することになりました。本セミナーは、ナノ材料・デバイスの評価技術として重要な電子顕微鏡・走査プローブ顕微鏡を軸に関連する新しい顕微評価技術の展開と促進を図るとともに、これを通じて産業界に貢献することを目的に開催しています。本セミナーでは機器メーカーと分析会社の協力により、口頭発表とポスター展示を併設して、各種材料・デバイスの顕微評価・解析の向上に役立つ最新技術やノウハウを紹介し、情報交換の場を提供いたします。また学界からは、藤田大介先生(物質・材料研究機構)をお招きして、特別講演をいただきます。今回も広く多くの方に参加いただくよう参加費を無料といたします。多数の皆様のご来場をお待ちしております。

プログラム(予定) :3月24日現在で、発表・展示の申込みがありました企業を掲載しています。その後の申込み状況により、発表順や開始終了の時間配分など多少変更する場合があります。順次更新していきますので、詳細はプログラムをご覧下さい。

時間 会社名 発表タイトル 発表者(敬称略)
10:00-11:40 日本電子(株) 電子顕微鏡用断面試料作成技術の基礎から応用まで 鈴木俊明
  (株)東陽テクニカ 新型Gemini SEMによる低加速電圧での高コントラスト・チャージレス観察 鈴木直久
  (株)コベルコ科研 透過電子顕微鏡(TEM)を用いた高精度歪計測技術 諸永 拓
  レニショー(株) 顕微ラマンイメージングの実用的な最新技術 三澤真弓
  物質・材料研究機構 走査型ヘリウムイオン顕微鏡で何ができるか(仮) 大西桂子
  日本カンタム・デザイン(株) レーザー顕微鏡や白色干渉計を凌ぐ高速測定が可能な「ワンショット3D測定マイクロスコープ」の紹介 山田昌弘
  日本カンタム・デザイン(株) 10nmに迫る分解能でイメージング&赤外分光測定を可能にする「s-SNOM散乱型近接場顕微鏡」の紹介 山田昌弘

11:40-13:00

ポスターセッション・展示昼食
13:00-14:00 特別講演「オペランド表面ナノ計測〜現状と展望〜」 藤田大介先生(物質・材料研究機構)
14:00-16:00 アメテック(株) 透過型EBSDを活用した3次元アトムプローブによる構造解析 石川真起志
  (株)日本サーマル・コンサルティング ナノスケール分解能AFM-IRとs-SNOMの開発現状について 浦山憲雄
  シエンタ オミクロン(株) 新しいコンセプトのUHV-SPM 富塚 仁
  (株)ユニソク 最新の低温SPM技術のご紹介 鈴木利明
  オックスフォード・インストゥルメンツ(株) アサイラム リサーチAFMを用いた材料物性イメージング 出口 匡
  (株)日立ハイテクサイエンス 自動化を進化させたSPMによるSEMとのコリレーション表面解析 伊與木誠人
  (株)島津製作所 FM-AFMの応用事例のご紹介 中島秀郎
  (株)テックサイエンス 教育用SPM/光励起力顕微鏡(PiFM)のご紹介 小野寺毅師
16:00-17:00 ポスターセッション・展示

*ショートプレゼンテーションは10分/件を予定しています。

チラシはこちらから

 

費用

無料

申込方法

終了しました

協賛

応用物理学会、日本物理学会、日本分析化学会、日本分光学会、日本質量分析学会、高分子学会、日本金属学会、日本顕微鏡学会、電気化学会、日本真空学会、日本材料科学会、表面技術協会、日本分析機器工業会、日本放射光学会、日本セラミックス協会、日本鉄鋼協会、軽金属学会、化学工学会、日本真空工業会、近畿化学協会、(以上、依頼中を含む)

備考

問合せ先

日本表面科学会産業連携委員会委員 多持 隆一郎 (㈱日立ハイテクノロジーズ)
E-mail: ryuichiro.tamochi.jg@hitachi-hihghtech.com

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日本表面科学会事務局
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