公益社団法人 日本表面科学会

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第59回 表面科学基礎講座「表面・界面分析の基礎と応用」 (2015年 東京)

主催

公益社団法人 日本表面科学会

開催日

2015年6月30日(火)〜7月2日(木)

締切日

2015年06月26日

会場

東京理科大学 神楽坂キャンパス 1号館17階大会議室
新宿区神楽坂1-3
JR総武線、地下鉄有楽町線、東西線、南北線飯田橋駅下車 徒歩3分
大江戸線飯田橋駅下車 徒歩10分

プログラム

表面・界面分析技術はめざましく進歩し、学術的研究はもとより、産業界における研究開発や品質評価などに盛んに利用されています。本講座は、表面・界面分析の初心者、若手研究者、技術者を対象として、表面・界面分析の基礎と応用を入門的かつ具体例を豊富に挙げて解説することを目的としています。また、内容の理解をたすけるために、各講演で演習を行う予定にしております。各講演の内容など企画の詳細につきましては、ホームページをご覧下さい。表面科学基礎講座へ多数の方々の参加をお勧めいたします。

 

月日 時間 講義題目 講師 講義資料
6月30日(火) 9:20〜
10:40
表面・界面分析概論 野副 尚一(中央大)
10:50〜
12:10
SPMの基礎 重川 秀実(筑波大)
12:10〜
13:10
   (昼食)     
13:10〜
14:30
SPMの応用 中嶋  健(東北大)
14:40〜
16:00
走査電子顕微鏡、電子プローブマイクロアナライザ(SEM/EPMA) 林  広司(島津)
16:10〜
17:30
透過電子顕微鏡(TEM/EDS/EELS) 保田 英洋(大阪大)
7月1日(水) 9:00〜
10:20
表面の特性基礎 木口 学(東工大)
10:30〜
11:50
電子回折法(RHEED/LEED) 堀尾 吉巳(大同大)
11:50〜
12:50
   (昼食)     
12:50〜
13:50
放射光表面構造解析 近藤  寛(慶応大)
14:00〜
15:00
測定データ取り扱いの基礎 太田 英二(慶応大)
15:10〜
16:30
赤外分光法、ラマン分光法 野口 秀典(物材機構)
16:40〜
18:00
イオン散乱分光法 笹川  薫(コベルコ科研)
7月2日(木) 9:00〜
10:20
真空技術基礎 大岩  烈(オミクロン ナノテクノロジー)
10:30〜
11:30
紫外光電子分光(UPS) 組頭 広志(高エネ研)
11:30〜
12:20
   (昼食)     
12:20〜
13:20
X線光電子分光法(XPS) 中村  誠(富士通研)
13:30〜
14:30
オージェ電子分光法(AES) 岩井 秀夫(物材機構)
14:40〜
15:40
二次イオン質量分析法(ダイナミックSIMS) 富田 充裕(東芝)
15:50〜
16:50
二次イオン質量分析法(スタティックSIMS) 河野禎市郎(旭化成)

詳細はこちら

参加定員

 100名(定員に達し次第〆切ります)

費用

表面科学会正会員 :30,000円
表面科学会維持会員:25,000円
表面科学会賛助会員:30,000円
協賛学協会会員:40,000円
表面科学会学生会員: 5,000円
学生(非会員):10,000円
その他 :45,000円
 (テキスト代、消費税を含む)

申込方法

終了しました

支払方法

(1)申し込みを受け付け次第、振込用紙をお送りします。
   受講者一名につき必ず一枚の振込用紙をご使用下さい。
(2)振込用紙の半券をもって領収書に替えさせていただきます。
(3)勝手ながら受講料の払い戻しは行いません。
   ご都合の悪くなった場合には、代理の方の受講をお願いします。

協賛

日本物理学会,応用物理学会,日本トライボロジー学会,日本金属学会,電子情報通信学会, 日本顕微鏡学会,電気化学会,表面技術協会, 粉体工学会, 日本材料学会, 電気学会, 日本材料科学会,日本機械学会,日本セラミックス協会,日本真空学会,高分子学会, 日本油化学会,日本分析化学会,軽金属学会,化学工学会,日本質量分析学会,粉体粉末冶金協会,日本分光学会

備考

7月17日(金)に表面科学技術者資格の第10回認定試験が行われます。第59回表面科学基礎講座受講者は無料で受験できます。受験申込の詳細はhttp://www.sssj.orgをご覧下さい。

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日本表面科学会事務局
〒113-0033 東京都文京区本郷2-40-13 本郷コーポレイション402 TEL:03-3812-0266 FAX:03-3812-2897 Email:

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