公益社団法人 日本表面科学会

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第53回 表面科学基礎講座「表面・界面分析の基礎と応用」 (2012年夏季 東京)

主催

公益社団法人 日本表面科学会

開催日

2012年7月10日(火)〜12日(木)

締切日

2012年07月09日

会場

東京大学 山上会館2階大会議室
東京都文京区本郷7-3-1
TEL 03-3812-2320  URL:http://www.sanjo.nc.u-tokyo.ac.jp/
(地下鉄丸ノ内線・都営大江戸線「本郷三丁目」駅、地下鉄千代田線「根津」駅、地下鉄南北線「東大前」駅) 

 

プログラム

月日 時間 講義題目 講師 講義資料
7月10日(火) 9:20〜
10:40
表面・界面分析概論 野副 尚一(中央大)  
10:50〜
12:10
SPMの基礎 重川 秀実(筑波大)  
12:10〜
13:10
   (昼食)     
13:10〜
14:30
SPMの応用 中嶋  健(東北大)  
14:40〜
16:00
走査電子顕微鏡、電子プローブマイクロアナライザ(SEM/EPMA) 林  広司(島津)  
16:10〜
17:30
透過電子顕微鏡(TEM/EDS/EELS) 保田 英洋(大阪大)  
7月11日(水) 9:00〜
10:20
表面の特性基礎 長谷川修司(東京大)  
10:30〜
11:50
電子回折法(RHEED/LEED) 堀尾 吉巳(大同大)  
11:50〜
12:50
   (昼食)     
12:50〜
13:50
放射光表面構造解析 近藤  寛(慶応大)  
14:00〜
15:00
測定データ取り扱いの基礎 太田 英二(慶応大)  
15:10〜
16:30
赤外分光法、ラマン分光法 野口 秀典(物材機構)  
16:40〜
17:40
イオン散乱分光法 笹川  薫(コベルコ科研)  
7月12日(木) 9:00〜
10:20
真空技術基礎 大岩  烈(オミクロン ナノテクノロジー)  
10:25〜
11:25
紫外光電子分光(UPS) 組頭 広志(高エネ研)  
11:25〜
12:15
   (昼食)     
12:15〜
13:15
X線光電子分光法(XPS) 中村  誠(富士通研)  
13:20〜
14:20
オージェ電子分光法(AES) 岩井 秀夫(物材機構)  
14:25〜
15:25
二次イオン質量分析法(ダイナミックSIMS) 富田 充裕(東芝)  
15:30〜
16:50
二次イオン質量分析法(スタティックSIMS) 河野禎市郎(旭化成)  

pdfファイルにはパスワードがかけられています。参加登録者にはメールにてパスワードをお知らせいたします。

ご参考までに、以前の表面・界面分析概論&電子プローブX線マイクロアナライザSEM-EDXのテキストをダウンロードしてご覧になってください。

参加定員

150名(定員に達し次第締切ます)

費用

表面科学会正会員 :30,000円
表面科学会維持会員:25,000円
表面科学会賛助会員:30,000円
協賛学協会会員:40,000円
表面科学会学生会員: 5,000円
学生(非会員):10,000円
そ の 他  :45,000円
 

申込方法

終了しました

支払方法

(1)申し込みを受け付け次第、振込用紙をお送りします。受講者一名につき必ず一枚の振込用紙をご使用下さい。
(2)振込用紙の半券をもって領収書に替えさせていただきます。
(3)勝手ながら受講料の払い戻しは行いません。ご都合の悪くなった場合には、代理の方の受講をお願いします。
 

協賛

日本物理学会,応用物理学会,日本トライボロジー学会,日本金属学会,電子情報通信学会,日本顕微鏡学会, 電気化学会, 表面技術協会, 粉体工学会, 日本材料学会, 電気学会,日本材料科学会, 日本機械学会, 日本セラミックス協会,日本真空学会,高分子学会,日本油化学会,日本分析化学会,軽金属学会,化学工学会,日本質量分析学会,触媒学会,粉体粉末冶金協会,日本分光学会

備考

7月13日(金)10:20から表面科学技術者資格の第4回認定試験が行われます。第53回表面科学基礎講座受講者は無料で受験できます。受験申込の詳細はコチラをご覧下さい。

チラシはコチラをご覧ください。
 

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〒113-0033 東京都文京区本郷2-40-13 本郷コーポレイション402 TEL:03-3812-0266 FAX:03-3812-2897 Email:

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